비구면 거울의 제조가 개선되는 동안 가시광선 PMI를 사용한 미러 제작의 평가도 큰 발전을 이루었습니다. 이 기술을 통해 제조업체는 제조 공정 중과 제조 공정 후에 거울의 표면 프로필을 측정하여 품질과 일관성을 보장할 수 있었습니다. 그러나 가시광선 PMI에는 한계가 있었습니다. 고주파수 표면 거칠기를 정확하게 특성화 하기에 어려웠습니다. 그 결과, 보다 미세한 스케일로 표면 세부 사항을 측정하는 고급 기술에 대한 요구가 증가했습니다. 이러한 요구로 고주파 간섭계 현미경의 발명이 되었는데 이 장비는 나노미터 수준에서 표면 거칠기를 측정할 수 있어 가시광선 PMI의 한계에 대한 솔루션을 제공할 수 있었습니다. 그렇기에 상기 기술로 고주파 표면 거칠기를 평가하고 제어할 수 있는 길을 열었습니다. 또 다른 중..